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F36 JSA-2000大面积屏栅电离室

　


技术性叁数

● 仪器本底：20240628829270.png

18cph(4～6MeV) ；28cph(3～9MeV)；● 测探吸收率：≥45%(4π)；≥90%(2π)；

● 样品源面积：≥450cm2；

● 力量分辩率：

40keV(对φ11mm 210Po电镀源)；

60keV(对大体积样品英文源)；

● 最小可探测限：4.0×10-4Bq(3σ30h)；

● 长时间安全性：道漂≤0.2～0.4%(30h)；● 平均可发现活度氧化还原电位：

5.3×10-4Bq/L水样；

1.7×10-3Bq/g固体样。

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